參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.入射角精度驗(yàn)證：測量范圍55-65，分辨率0.01，誤差0.1
2.P偏振光反射率測試：波長范圍400-1100nm，靈敏度0.5%
3.消光比測定：動態(tài)范圍≥30dB，重復(fù)性誤差≤1.5%
4.相位延遲分析：測量精度λ/200@632.8nm
5.材料折射率計(jì)算：基于Fresnel方程推導(dǎo)，誤差0.002

檢測范圍

1.光學(xué)玻璃基板（BK7、熔融石英等）
2.納米級薄膜材料（ITO、SiO?/TiO?多層膜）
3.半導(dǎo)體晶圓（Si、GaAs、InP）
4.高分子聚合物薄膜（PET、PC、PMMA）
5.金屬氧化物涂層（Al?O?、ZrO?鍍層）

檢測方法

1.ASTME903-20材料光譜反射率標(biāo)準(zhǔn)測試法
2.ISO13696:2002光學(xué)元件散射特性測量規(guī)范
3.GB/T26333-2010橢偏法測量薄膜厚度技術(shù)規(guī)程
4.ISO15368:2021光學(xué)系統(tǒng)偏振特性測試標(biāo)準(zhǔn)
5.GB/T36230-2018激光光學(xué)元件表面特性測試方法

檢測設(shè)備

1.J.A.WoollamM-2000D型光譜橢偏儀：波長范圍245-1700nm，入射角調(diào)節(jié)精度0.005
2.HoribaUVISEL2相位調(diào)制橢偏儀：配備自動θ-2θ旋轉(zhuǎn)平臺
3.AgilentCary7000全能型分光光度計(jì)：支持V-W絕對反射測量模式
4.ThorlabsPAX1000偏振分析儀：波長覆蓋400-1100nm，消光比測量精度0.1dB
5.BrukerD8Discover高分辨X射線衍射儀：用于驗(yàn)證晶體材料各向異性
6.OceanInsightFX系列光纖光譜儀：集成余弦校正器與SMA905接口
7.Newport1918-C光功率計(jì)：配合818系列探頭實(shí)現(xiàn)nW級弱光檢測
8.LabsphereCAS140D成像光譜輻射計(jì)：空間分辨率達(dá)15μm
9.ShimadzuAIM-9000紅外顯微鏡：支持微區(qū)反射率測量功能
10.ZygoVerifireMST激光干涉儀：面形精度λ/100PV值

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)